儀器儀表
基于步進(jìn)掃描的光調(diào)制反射光譜方法及裝置獲國(guó)家專(zhuān)利授權(quán)
2009-6-29 來(lái)源:上海技術(shù)物理研究所
關(guān)鍵詞：光調(diào)制反射光譜
2009-6-29 來(lái)源:上海技術(shù)物理研究所
關(guān)鍵詞：光調(diào)制反射光譜
近日，一種“基于步進(jìn)掃描的光調(diào)制反射光譜方法及裝置”近日獲得國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專(zhuān)利授權(quán)。該專(zhuān)利由中科院上海技術(shù)物理研究所邵軍、陸衛(wèi)等科研人員發(fā)明。
該裝置包括傅立葉變換紅外光譜測(cè)量系統(tǒng)、作為泵浦光源的激光器、以及聯(lián)結(jié)傅立葉變換紅外光譜儀中探測(cè)器與電路控制板的鎖相放大器和低通濾波器，置于樣品與激光器之間光路上的斬波器，從而使連續(xù)泵浦激光變?yōu)檎{(diào)制激光，并饋入鎖相放大器的輸入?yún)⒖级藖?lái)控制鎖相。該方法使用上述裝置進(jìn)行光調(diào)制反射光譜測(cè)量，包括消除泵浦光的漫反射信號(hào)以及泵浦光產(chǎn)生的光致發(fā)光信號(hào)的干擾；消除傅立葉頻率和增強(qiáng)中、遠(yuǎn)紅外波段微弱光信號(hào)的探測(cè)能力三個(gè)功能。
經(jīng)過(guò)對(duì)分子束外延生長(zhǎng)GaNxAs1-x/GaAs 單量子阱樣品和Ga1-xInxP/AlGaInP多量子阱材料的光調(diào)制反射光譜實(shí)際測(cè)試。表明本發(fā)明顯著提高探測(cè)靈敏度和光譜信噪比，并具有快速、便捷的優(yōu)點(diǎn)，特別適用于中、遠(yuǎn)紅外光電材料微弱光特性的檢測(cè)。
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（子妍）
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