除上述兩種典型的化學鍵外，還有介于它們之間的一種化學鍵：極性共價鍵。在極性共價鍵中，其中的一個原子的價電子向另一個原子偏向多一些，因此導致偶極的出現，使結合的一對原子分別帶有微弱的正、負極性。這種化學鍵出現于一些金屬原子與非金屬原子的結合中。此外，還有配位鍵。
2.高分子的鏈結構
高分子是由結構單元（單體或其極性基團）通過化學鍵結合而成的大分子。根據主鏈上的元素結構，高分子分為：
均鏈高分子 — 主鏈由單一的一種原子通過共價鍵組成。
雜鏈高分子 — 主鏈由兩種或兩種以上的原子組成
組成鏈結構的原子除C原子外，還可以是N、O、P、S、Si、B等元素。與低分子量的分子相比，高分子具有復雜的結構和形態：同一分子鏈中的結構單元可以是一種，也可以為幾種；
同一反應中生成的高分子的相對分子質量，分子結構，分子空間構型，枝化度和交聯度等不盡相同；同一高分子聚合物在凝聚態結構上存在多樣性（同一高聚物在不同的條件下，可以晶態、非晶態、取向態等多種形式出現）。對含雜原子（碳、氫之外的原子）的高分子化合物或合成的高分子金屬化合物、高分子－金屬配合物，有時難以確定分子的化學結構，這時對化合物中化學鍵的分析，可以提供高分子化合物化學結構的信息。
3. 化學鍵的分析方法
3.1 X射線光電子能譜
用單色軟X光以小角度入射受測材料的表面，材料表面分子內的電子受到激勵后能量發生躍升。如入射光子的能量足以使電子克服原子的引力，受到激勵的電子將脫離分子成為自由電子。測定由于光子激勵所產生的自由電子數和入射能量之間的關系，可以得到一個譜線。由于使電子從處于某種化學鍵狀態的電子的束縛中釋放出來所需要的能量是唯一的，因此X光衍射光譜上峰值對應的化學鍵，元素原子類型均為唯一的，即處于每種化學鍵狀態和某種原子在X光衍射光譜上留有對應的“指紋”。通過比較已知化學結構的“指紋”可以確定未知樣品的化學鍵類型以及樣品的構成單元。
需要指出的是小角度X光衍射光譜的信息通常僅取自表面的2-20原子層，因此該方法僅適于測定材料表面的化學構成而不能用于分析材料內部的化學鍵和組成元素。
除氫和氦外，X射線光電子能譜法可以用來測定所有材料表面的原子類型及化學鍵狀態，因此對于研究高分子金屬配合物，含金屬原子的超分子體系是十分有用的。
