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p-Si TFT柵絕緣層用SiN薄膜的制備與研究  
p-Si TFT柵絕緣層用SiN薄膜的制備與研究
資料類型: PDF文件
關鍵詞: PECVD  SiN薄膜  反應源氣體流量比  反應壓強  
資料大?。?/td> 277K
所屬學科: 分子表征
來源: 2007年第六屆中國功能材料及其應用學術會議暨2007國際功能材料專題論壇論文集(11.15-11.19,武漢)
簡介:
以NH3和SiH4為反應源氣體,采用射頻等離子體增強化學氣相沉積(RF-PECVD)法在多晶硅(p-Si)襯底上沉積了一系列SiN薄膜并進行了相關性能測試。系統地分析討論了反應源氣體流量比和反應壓強對SiN薄膜介電常數、電學性能及界面特性的影響。在制備高質量的p-SiTFT柵絕緣層用SiN薄膜方面具有重要的參考價值。
作者: 張化福,劉漢法,祁康成
上傳時間: 2008-09-11 15:27:51
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