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Sn 膜硫化合成SnS 薄膜及其性能研究 |
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資料類(lèi)型: |
PDF文件
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關(guān)鍵詞: |
sns 薄膜 兩步法 光電性能 |
資料大小: |
310K |
所屬學(xué)科: |
分子表征 |
來(lái)源: |
2007年第六屆中國(guó)功能材料及其應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議暨2007國(guó)際功能材料專(zhuān)題論壇論文集(11.15-11.19,武漢) |
簡(jiǎn)介: |
用熱蒸發(fā)法技術(shù)在ITO透明導(dǎo)電玻璃上沉積一層Sn膜,將其裝入石墨盒里后,放在真空爐里面硫化處理,硫化溫度在150~350℃之間。通過(guò)對(duì)在不同溫度下硫化的薄膜進(jìn)行結(jié)構(gòu)、成分和表面形貌分析,表明退火溫度在230~250℃之間時(shí)所制得的薄膜為正交結(jié)構(gòu)的SnS多晶薄膜,其均勻性和對(duì)基片的附著力都較好,具有(111)方向優(yōu)先生長(zhǎng),薄膜粒徑在200~800nm。通過(guò)測(cè)量薄膜樣品的反射和透射光譜,計(jì)算得到其直接禁帶寬度Eg=1.38eV,在基本吸收邊附近的吸收系數(shù)大于104/cm,用霍爾測(cè)量系統(tǒng)測(cè)得其導(dǎo)電類(lèi)型為p型,適合應(yīng)用于太陽(yáng)能電池的吸收層材料。 |
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作者: |
彭少朋,程樹(shù)英
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上傳時(shí)間: |
2008-08-12 15:56:53 |
下載次數(shù): |
44 |
消耗積分: |
2
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