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資料類型: |
PDF文件
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關鍵詞: |
氣-液-固反應 Ag(TCNQ)納米線 場發射 |
資料大小: |
145K |
所屬學科: |
分子表征 |
來源: |
2004年第五屆中國功能材料及其應用學術會議(9.12-9.16,北京.秦皇島) |
簡介: |
采用氣-液-固反應方法在硅片上制備了取向金屬有機配合物Ag(TCNQ)納米線。樣品的XRD特征峰與Ag(TCNQ)相對應;SEM形貌顯示納米線幾乎垂直基片生長,直徑在50~300nm,長度在2~50µm。初步對其場發射性能進行了研究,所得Ag(TCNQ)納米線的最低場發射開啟電壓約為1.5Vµm-1,最大發射電流密度約為0.03mAcm-2,此時對應的電場約為2.5Vµm-1。由測量所得I-V曲線得到的Fowler-Nordheim(F-N)曲線近似為一條直線,說明樣品具有場發射性能。重復實驗表明,Ag(TCNQ)納米線的場發射具有一定的穩定性。結合納米線制備工藝,初步分析了場發射性能的影響因素。 |
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作者: |
葉春暖 莫曉亮 徐華華 韓成赫 曹冠英 孫大林 陳國榮
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上傳時間: |
2007-07-09 16:19:24 |
下載次數: |
617 |
消耗積分: |
2
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